9月10日—12日，第26屆中國國際光電博覽會（CIOE）在深圳國際會展中心隆重舉行。作為全球光電技術(shù)領(lǐng)域最具影響力的展會之一，本屆光博會吸引了全球3800余家知名企業(yè)參展，集中展示光電領(lǐng)域的前沿技術(shù)成果與創(chuàng)新應(yīng)用。

作為國內(nèi)光學(xué)顯微鏡領(lǐng)域的頭部企業(yè)與全球知名光學(xué)品牌，麥克奧迪光學(xué)應(yīng)邀出席光博會“半導(dǎo)體制程量測與檢測論壇”，并攜多款重磅顯微鏡新品亮相展會。深耕光學(xué)領(lǐng)域多年，麥克奧迪光學(xué)始終秉持“創(chuàng)新智造，引領(lǐng)顯微科技”的理念，聚焦工業(yè)檢測、教育、科研醫(yī)療等核心領(lǐng)域，積極推動光電技術(shù)與各應(yīng)用場景的深度融合，為全球光電產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展注入強(qiáng)勁新動能。

麥克奧迪全場景工業(yè)產(chǎn)品方案SHOW

9月11日下午，在展會同期舉辦的“半導(dǎo)體制程量測與檢測論壇”上，麥克奧迪光學(xué)銷售副總監(jiān)張建鋒發(fā)表了題為《麥克奧迪工業(yè)產(chǎn)品在半導(dǎo)體市場的應(yīng)用》的專題演講。他從3D視覺系統(tǒng)解決方案、3D金屬打印鋪粉檢測技術(shù)，到工業(yè)電池極片缺陷在線監(jiān)測等多個方面，全面展現(xiàn)了麥克奧迪光學(xué)工業(yè)產(chǎn)品矩陣在半導(dǎo)體領(lǐng)域的多元化應(yīng)用場景與核心價(jià)值。此次演講不僅加深了現(xiàn)場行業(yè)專家及企業(yè)代表對麥克奧迪技術(shù)實(shí)力的了解，也為后續(xù)合作與技術(shù)交流奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

麥克奧迪光學(xué)銷售副總監(jiān)張建鋒發(fā)表演講

新品首發(fā)  開啟全新視界

展會現(xiàn)場，麥克奧迪光學(xué)推出的全新一代Easy Zoom 6超景深數(shù)碼顯微鏡與PA300工業(yè)檢測顯微鏡，不僅在精度和效率方面實(shí)現(xiàn)了全面升級，更憑借其光學(xué)技術(shù)和智能化設(shè)計(jì)，一度成為現(xiàn)場矚目的“焦點(diǎn)”，為工業(yè)檢測、科研等高端領(lǐng)域提供精準(zhǔn)高效的解決方案。

Easy Zoom 6超景深數(shù)碼顯微鏡

助力檢測效率再升級

Easy Zoom 6將光學(xué)技術(shù)與數(shù)碼技術(shù)的深度融合，是一套集體視鏡、工具顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡等功能于一體的高度自動化的顯微系統(tǒng)。在檢測過程中，僅需一個變焦鏡體即可完成30x至10000x的無縫變焦，搭配長工作距離設(shè)計(jì)與多模式照明系統(tǒng)，可快速獲取樣本從宏觀概貌到微觀細(xì)節(jié)的清晰圖像。

此外，Easy Zoom 6依托一鍵式超景深合成技術(shù)及自主研發(fā)的精密成像與智能電動變倍系統(tǒng)，只需一鍵即可自動完成圖像采集、融合、拼接及3D 建模，輕松獲取清晰完整的三維圖像，可極大提升檢測效率。該顯微鏡可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、鋰電、新能源、汽車、材料和化工等行業(yè)，為各類高精度檢測需求提供可靠的技術(shù)支撐。

Easy Zoom 6超景深數(shù)碼顯微鏡

PA300工業(yè)檢測顯微鏡

生產(chǎn)檢測的好搭檔

PA300工業(yè)檢測顯微鏡專為滿足半導(dǎo)體、平板顯示（FPD）及工業(yè)精密檢測領(lǐng)域的核心需求而設(shè)計(jì)。該顯微鏡采用靈活模塊化設(shè)計(jì)，支持明場、暗場、偏光、DIC 微分干涉、熒光等多樣化觀察功能；具備低重心、高剛性特點(diǎn)的一體化機(jī)身，顯著提升抗振能力；融合人體工程學(xué)與智能化設(shè)計(jì)，能夠適配工業(yè)領(lǐng)域的大型樣品及中小尺寸樣品檢測，尤其成為晶圓表面缺陷、FPD液晶基板檢測的理想工具。

PA300工業(yè)檢測顯微鏡

除新品外，麥克奧迪光學(xué)展出EasyNanoScan系列桌面式掃描電鏡、PX55系列科研級倒置顯微鏡、PA53MET系列科研級正置金相顯微鏡等產(chǎn)品，同樣憑借優(yōu)異的光學(xué)性能及便捷的操作設(shè)計(jì)，吸引眾多行業(yè)專家與研究人員駐足體驗(yàn)。

EasyNanoScan系列桌面式掃描電鏡

PX55系列科研級倒置顯微鏡

PA53MET系列科研級正置金相顯微鏡